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压力容器无损检测是指在不破坏容器的情况下，利用一些物理原理和技术手段来检测容器内部是否存在缺陷、裂纹、腐蚀等问题，以确保容器的安全可靠运行。本文收集整理了一些资料，期望能对各位读者有比较大的参阅价值。 常用的无损检测技术包括 超声波检测：利用超声波在物体内部的传播特性来检测容器内部的缺陷和裂纹，适用于金属、非金属和复合材料容器的检测。 X射线检测：利用X射线穿透物体的特性来检测容器内部的缺陷、裂纹和壳体

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OC5266B——65V 高端电流检测降压LED恒流驱动器 概述 OC5266B 是内置功率 MOS，同时可支持外扩驱动 NMOS 的一款连续电感电流导通模式的降压型 LED 恒流驱动器，用于驱动一个或多个 LED 灯串。OC5266B工作电压从 4.8V 到 65V，提供可调的输出电流，内置 MOS 最大 1.5A 输出。 OC5266B 内置功率开关，采用高端电流检测电路，以及兼容 PWM 和模拟调光的调光脚 DIM。当 DIM 脚电压低于 0.3V时输出关断，进入待机状态。 OC5266B 内置过温保护电路，当芯片达到过温保护点进入

OC5265B——65V,1.2A 高端电流检测降压 LED 恒流驱动器 概述 OC5265B 是一款连续电感电流导通模式的降压型 LED 恒流驱动器，用于驱动一个或多个 LED 灯串。OC5265B 工作电压从 4.8v 到 65v，提供可调的输出电流，最大输出电流可达到 1.2A。根据不同的输入电压和外部器件，OC5265B 可以驱动供高达数十瓦的 LED。 OC5265B 内置功率开关，采用高端电流检测电路，以及兼容 PWM 和模拟调光的调光脚 DIM。当 DIM 脚电压低于 0.3v时输出关断，进入待机状态。 OC5265B 内置过温保

OC5217 30V,800mA 高端电流检测降压 LED 恒流驱动器 概述 OC5217 是一款连续电感电流导通模式的降压型 LED 恒流驱动器，用于驱动一个或多个 LED 灯串。OC5217 工作电压从5.5v 到 30v，提供可调的输出电流，最大输出电流可达到 800mA。根据不同的输入电压和外部器件，OC5217 可以驱动供高达数十瓦的 LED。OC5217 内置功率开关，采用高端电流检测电路，以及兼容 PWM 和模拟调光的调光脚 DIM。当 DIM 脚电压低于 0.3v时输出关断，进入待机状态。 OC5217 内置过温保护电路，

MBI6662 60V/2A, 共阳极降压型 LED 驱动芯片 产品说明 MBI6662为高效率恒流降压型DC/DC转换器驱动芯片，其适用于驱动高功率LED，并采用磁滞宽带可调之定频控制技术及提供共阳极连接方案。 MBI6662 输出电流可透过外部电阻进行设定，且可在 DIM 脚连接脉宽调变(PWM)讯号进行调光控制。另外，启动过流保护装置(Start-Up)功能可限制芯片因电源启动时所产生的突波电流，同时 MBI6662 还提供欠电压锁定保护(UVLO)、过温保护(OTP)及过电流保护功能(OCP)，以避免芯片在不

概述 OC5801L 是一款支持宽电压输入的开关降压型 DC-DC 控制器，最高输入电压可超过 150V。OC5801L 具有低待机功耗、高效率、低纹波、优异的母线电压调整率和负载调整率等特性。支持大电流输出，输出电流可高达 10A 以上。 OC5801L 同时支持输出恒压和输出恒流功能。通过设置 CS 电阻可设置输出恒流值。通过设置 FB1、FB2 引脚的分压电阻可设置输出恒压值。 OC5801L 采用固定频率的 PWM 控制方式，典型开关频率为 140KHz。轻载时会自动降低开关频率以获得高

GR8853是一款高压,高速,带有高低端驱动的半桥驱动器.该器件前级可调振荡器的功能与大家熟知的555时基电路相似.驱动器的输出带有缓冲单元,可设定内部死去时间,防止桥路中的两只功率开关管直通.高低端管具有延时匹配,适用于占空比50%的场合,该器件可驱动n沟道功率mosfet或igbt. GR8853 是绿达光电专门为电子镇流器开发的半桥控制与驱动功率集成电路，其具有以下特点： 　　1)可同时驱动600V半桥电路中的上下两个功率器件； 　　2)单电源供电，内置20V稳

降压恒压"芯“选择——OC58655B 33V3A输出 产品介绍： 你是否曾因家中电器电压不稳而烦恼？是否担心电压波动影响设备的性能和寿命？现在，我们为你带来了一款神奇的降压恒压芯片，让你的电力问题一扫而光。而今天，我们要介绍是OC58655B。 OC58655B 是一款支持宽电压输入的开关降压型 DC-DC 控制器，最高输入电压 100V。芯片 具有低待机功耗、高效率、低纹波、优异的母线电压调整率和负载调整率等特性。驱动外部 MOS,支持大电流输出。 OC58655B典型

OC7141 PWM 调光的线性降压 LED 恒流驱动器 概述 OC7141 是一种带 PWM 调光功能的线性降压 LED 恒流驱动器，仅需外接一个电阻和一个 NMOS 管就可以构成一个完整的LED 恒流驱动电路，调节该外接电阻就可以调节输出电流，输出电流可调范围为 10mA到 3000mA。OC7141 内置过热保护功能，可有效保护芯片及 MOS 管，避免因过热而造成损坏。OC7141 具有很低的静态电流，典型值为 60uA。 OC7141 带 PWM 调光功能，可通过在DIM 脚加 PWM 信号调节 LED 电流。 OC7141 采用 SOT-23-5 封装

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芯片的氧化是一种常见的问题，因为氧化会破坏芯片表面的绝缘层，导致芯片性能下降或失效。主要是是由于芯片表面的材料与氧气（O2）在高温、高湿度等条件下发生氧化反应导致的。为增进大家对氧化的认识，以下是小编整理的芯片氧化相关内容，希望能给您带来参考与帮助。 芯片氧化原因分析 通常情况下，芯片表面的材料是硅（Si），硅氧化物（SiO2）、氧化铝（Al2O3）等，这些材料在高温高湿的环境下容易与氧气发生反应，形成氧化层。 这种

在追求极致性能与高效能耗比的今天，英集芯IP5912以其卓越的性能表现，正逐步成为智能设备电源管理领域的璀璨明星。这是一款集成了开关充电功能的低功耗8位POWER MCU芯片，极简BOM设计，内置兼容8051指令集的8-bit MCU，具备强大的定时器功能。集成了降压充电管理功能，支持10个GPIO口功能。具有多种低功耗模式，其中EN待机功耗小于2uA。为小型电子设备提供了高效、可靠的电源管理和控制解决方案。 【高效充电，性能卓越】 IP5912内置同步降压充电DC-

在进行芯片烧录前，需要详细了解芯片的规格书和数据手册，了解芯片的特性、烧录方式和烧录参数设置，以确保烧录过程正确无误。针对不同类型的芯片，烧录方法也有所不同。以下是一些常见的芯片烧录方法： ISP烧录：ISP（In-System Programming）烧录是指通过芯片自带的ISP接口进行烧录的方式。这种方式通常需要使用ISP烧录器，将烧录器通过ISP接口与目标芯片连接，然后使用烧录软件进行烧录。常见的芯片如STM32、AT89S52等都支持ISP烧录。 JTAG烧录：JTA

随着环保意识的日益增强，各个行业都开始注重环保和可持续发展。在电子产品制造业中，元器件环保报告已经成为一个重要的标准。本文将介绍元器件环保报告包括哪些内容，以及电子产品生产环境的要求。希望能够为读者提供有价值的参考。 首先，元器件环保报告主要包括以下内容： RoHS认证：RoHS是欧盟颁布的一项环保法规，规定了电子产品中不得含有铅、汞、镉、六价铬等有害物质。元器件环保报告中需要包含所有元器件的RoHS认证情况。 REACH

他在市场骗了好多年了，收了货款不发货，也不还你，找法院都没用

铨力 APG055N12T N-通道增强型 MOSFET 特征：120V,200ARDS（ON）<5.5mΩ＠VGS=10V TYP:5.0mΩRDS（ON）<7.5mΩ＠VGS=6V TYP:6.5mΩ先进的沟槽电池设计低热阻 应用：电机驱动器直流-直流转换器

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盐雾测试是一种常用的电工电子产品可靠性测试方法，用于评估产品在盐雾环境下的耐受能力和可靠性。盐雾测试通常用于检验产品在高温、高湿、盐雾环境下的性能和稳定性。那么，哪些产品需要进行盐雾测试呢？为帮助大家深入了解，以下内容由创芯检测网整理，提供给您参考。 当电工电子产品需要做盐雾测试时，首先需要根据产品的实际情况选择适合的测试标准和条件。例如，对于电子元器件和组件，通常采用 ISO 7812 标准进行测试，对于通讯

描述： AP180N03P/T采用先进的沟槽技术 提供优异的RDS（ON）、低栅极电荷和低至4.5V的栅极电压操作 该器件适用于电池保护或其他开关应用 特征： VDS=30V ID =180A RDS(ON) < 3.2mΩ @ VGS=10V （Type：2.1mΩ） 应用： 电池保护 负载开关 不间断电源

目前芯片在各个领域中的应用越来越广泛，因此芯片测试变得至关重要。芯片测试需要掌握先进的技术和正规的检测机构，以确保芯片的质量和可靠性。为增进大家对芯片测试的认识，以下是小编整理的检测相关内容，希望能给您带来参考与帮助。 芯片测试主要包括以下几个方面： 前端测试：前端测试是指对芯片在制造过程中的各个环节进行测试，以确保芯片的基本性能参数符合设计要求。前端测试主要包括掩膜检查、晶圆测试、切割测试和焊盘测

电子元器件防潮箱湿度标准是保护电子元器件的重要措施之一。在电子元器件防潮箱中，湿度标准必须保持在一定的范围内，以确保电子元器件的安全性和可靠性。本文将介绍电子元器件防潮箱湿度标准的重要性以及如何测量和保持湿度标准。 一、电子元器件防潮箱湿度标准的重要性 电子元器件防潮箱的湿度标准对于保护电子元器件至关重要。电子元器件防潮箱中的湿度过高或过低都会对电子元器件产生不良影响。当湿度过高时，电子元器件表面的

AP7N65K N-通道增强型 MOSFET特征：650V,7ARDS（ON）<1.35Ω＠VGS=10V TYP:1.1Ω快速切换100%雪崩测试改进的dv/dt能力应用：开关模式电源（SMPS）不间断电源（UPS）功率因数校正（PFC）PWM应用

APA65R640FM 超结功率场效应晶体管特征： 650V,7A RDS（ON）<640mΩ＠VGS=10V TYP:523mΩ 先进的超结技术 极低导通电阻 应用： 功率因子校正（PFC） 开关模式电源（SMPS） 不间断电源（UPS） LED照明电源

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AP100N03P/T 30V N-通道增强模式 MOSFET描述：AP100N03P/T是采用先进的沟槽技术提供优异的RDS（ON）、低栅极电荷和低至4.5V的栅极电压操作该器件适用于电池保护或其他开关应用特征：VDS = 30V ID =100 ARDS(ON) < 5.5mΩ @ VGS=10V （Type：4.5mΩ）应用：电池保护负载开关不间断电源

焊接是一种常见的金属加工方法，不同的焊接方法对焊接区域的热影响区宽度有不同的影响。热影响区是指焊接区域受到热量影响而发生的物理和化学变化的区域。下面将介绍几种常见的焊接方法及其热影响区宽度。 1. 电弧焊 电弧焊是一种常见的焊接方法，热影响区宽度一般为1-5毫米。电弧焊的热影响区宽度与焊接电流、焊接速度、焊接材料等因素有关。焊接电流越大、焊接速度越慢，热影响区宽度越大。 2. 气体保护焊 气体保护焊是一种常见的焊

材料检测中心是第三方检测机构，负责对原材料进行测量、探伤、材料分析以及环境测试等工作，以确保材料和机体的安全性，并评估勘察材料受污染程度。在材料性能测试中，常见的仪器有很多种，本文将介绍几种常见的材料性能测试仪器。 一、拉伸试验机 拉伸试验机是一种用于测试材料拉伸性能的实验设备。它通常由一个固定的底座和一个移动的横梁组成，横梁上安装有夹具，用于夹住材料样本。在测试过程中，夹具会施加拉力，逐渐拉伸材料

电子器件的机械冲击是指在电子器件运输、储存、使用等过程中，所受到的突然冲击力。这种冲击力可能会导致电子器件的损坏或失效，从而影响电子器件的性能和可靠性。为帮助大家深入了解，以下内容由创芯检测网整理，提供给您参考。 1. 机械冲击的来源 电子器件的机械冲击主要来自于以下几个方面： （1）运输过程中的震动和冲击：在电子器件运输过程中，由于道路不平、交通拥堵等原因，可能会受到震动和冲击。 （2）储存过程中的振动和冲

公司发展需要 电子元件需求增加 有意向的供应商可以留下联系方式。

湿气敏感器件是指由吸湿材料（如：环氧树脂，聚合树脂等）等封装的电子元器件。湿气敏感等级（在电子行业中称之为MSL）定义用于回流焊工艺，一个元器件可以暴露在不高于华氏30℃，60-85%相对湿度的环境中的最长安全时间。该范围从MSL 1开始，称之为“无限制”或不受影响，而每个增量级别则表示一个持续的时间阈值。 常见的湿气敏感性等级测试项目： 1. MSL (Moisture Sensitivity Level) - 湿气敏感等级测试，用于评估半导体器件的湿气敏感性能。 2. HAS

在追求极致性能与高效能源利用的今天，手电筒的每一次点亮都承载着对品质的苛求与技术的革新。英集芯IP5901是一款集成5V升压转换、锂电池充电管理及负端NMOS管的8-bit MCU芯片。兼容8051指令集内核，支持最大500mA线性充电，且同步升压转换功能强大，兼容多种电池电压。提供多个IO口，支持多种输入输出需求。具备多重保护机制，确保设备在恶劣环境下也能稳定运行。具有广泛的应用场景，特别是在手电筒等便携式设备中表现出色。 【极致能效，照

随着电子产品的广泛应用，芯片作为电子产品的核心部件，其可靠性测试变得越来越重要。芯片可靠性测试是指在特定条件下对芯片进行各种测试，以验证其在使用寿命内的可靠性和稳定性。在芯片可靠性测试中，测试流程和标准是非常关键的因素。本文将对芯片可靠性测试流程进行分析，并探讨相关的测试标准。 一、芯片可靠性测试流程分析 1.测试需求分析 与客户沟通，明确测试目标、测试范围、测试标准等。分析芯片的功能需求，确定测试的必

芯片是现代电子设备的重要组成部分，其质量和真伪直接影响到设备的性能和可靠性。因此，如何通过检测来区分芯片的真伪是一个非常重要的问题。本文将介绍几种常见的芯片真伪检测方法。 1. 外观检测法 外观检测法是最简单的芯片真伪检测方法之一。通过观察芯片的外观，包括封装形式、印刷内容、标识等，来判断芯片的真伪。真正的芯片通常具有清晰的标识、完整的封装和高质量的印刷内容，而假冒芯片则可能存在模糊的标识、不完整的封装

IC芯片是现代电子设备中不可或缺的一部分，而如何判断IC芯片的好坏是一个非常重要的问题。在制造过程中，IC芯片可能会受到各种因素的影响，例如材料质量、制造工艺和运输过程等，因此需要进行各种检测来确保其质量。 首先，IC芯片的外观是一个最基本的检测。制造商会检查IC芯片的封装是否完好，有没有破损或者变形等。如果封装有问题，那么芯片内部的电路可能会受到损坏，从而影响芯片的性能和可靠性。 其次，制造商会使用各种仪器来检

在现代社会中，电子产品已经成为人们生活和工作中不可或缺的一部分。然而，由于电子产品的种类和功能不断增加，产品质量和安全问题也日益受到关注。为了确保电子产品的质量和安全性，电子产品检测成为了企业和消费者关注的热点问题。电子产品检测内容涵盖了安全性检测、电磁兼容性检测、性能检测、可靠性检测和法规合规性检测等方面的内容。在这篇文章中，我们将重点介绍电子产品检测的内容和重要性，以帮助读者更好地理解电子产品

在PCBA加工中，两种常见的焊接方式就是回流焊和波峰焊。那么在PCBA加工中，回流焊的作用是什么，波峰焊的作用是什么，他们的区别又在哪里呢?这篇文章将详细解释。 PCBA是指Printed Circuit Board +Assembly的简称，也就是说PCB空板经过SMT上件，再经过DIP插件的整个制程，简称PCBA .这是国内常用的一种写法，而在欧美的标准写法是PCB'A，加了“'”，这被称之为官方习惯用语。 1.回流焊： 是指通过加热融化预先涂布在焊盘上的焊锡膏，实现预先贴装在焊

截至2023年我国风电与光伏分别实现累计装机441GW与609GW，合计占国内电源装机总量的36%。光伏和储能市场发展前景广阔，预计未来将继续保持增长趋势。 然而光伏和储能发展依然面临着如成本高、稳定性差、能量转换效率等一系列问题。 海凌科推出的低成本类LoRa模块HLK-L09，可以助力快速建设光伏储能系统，实时传输发电、储电信息，解决太阳能光伏受天气影响而产生的间歇性和不稳定性等问题。 No.1 产品介绍 纯国产TurMassTM 模块 HLK-L09 是一款专为 LP

在工程和科学领域中，冲击测试是一项至关重要的实验，用于评估材料或结构在受到突然冲击或冲击载荷时的表现。冲击测试参数的选择对于正确评估材料的性能至关重要。本文将探讨冲击测试参数的相关内容以及其重要性。 冲击测试参数的选择包括冲击载荷的大小、形状、持续时间以及冲击速度等因素。其中，冲击载荷的大小直接影响着被测试材料的应力和变形情况。通过调整冲击载荷的大小，可以评估材料在不同应力水平下的性能表现，为工程

在这个快节奏的时代，无线充电技术正以前所未有的速度改变着我们的生活。英集芯IP6825是一款高集成度的无线充电发射端控制SoC芯片，兼容WPC Qi最新标准，支持A11或A11a线圈。支持5W充电，满足日常小型电子设备的无线充电需求。极简BOM设计，片内集成全桥驱动电路和功率MOS，以及电压和电流两路ASK通讯解调模块，简化电路设计，降低成本。IP6825适用于各类无线充设备领域，包括但不限于手机、智能手表、耳机等小型电子设备。其高效、稳定、安全的

跌落测试主要用来模拟产品在搬运期间可能受到的自由跌落，考察产品抗意外冲击的能力。跌落高度通常根据产品重量以及可能掉落的机率作为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。 一、跌落测试有哪些要求？ 跌落试验不仅对物品跌落的高度有要求，而且在测试时往往还需要对物品的角、棱、面进行跌落测试。在针对角、棱、面进行跌落测试时，物品跌落的角度也有

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在现代科技发展中，电子元器件扮演着至关重要的角色。它们构成了我们日常生活中使用的各种电子设备，从智能手机到电脑，再到汽车和医疗设备。为了确保电子设备的正常运行，对电子元器件进行准确的检测至关重要。本文将介绍一些常见的电子元器件以及它们的检测方法。 1.电阻（Resistor） 电阻是用于限制电流的元件。常见的检测方法有： 用万用表测量电阻值，将两个测量引线连接到电阻的两端，读取万用表上的数值。 使用万用表的二极管测

在电子电路焊接中，正确使用元器件是确保电路正常工作和性能稳定的关键。本文将介绍电子电路中常用的元器件，并详细说明它们的正确使用方法，以帮助读者更好地理解和应用这些元器件。 1.电阻 电阻是电子电路中最常见的元器件之一，用于限制电流、分压和连接电路。在焊接电阻时，应注意以下几点： 确保焊接点干净，去除氧化层，以确保良好的焊接接触。 不要过度加热电阻，以免影响其电阻值。 确保焊接点牢固，避免因松动而引起接触不