4.这一节讲讲大家都关心的电容量测量问题吧。
话说首先，你要有一个有电容测量功能的万用表，目前大部分20块钱以上的万用表都有电容测量功能，只不过大部分的表最大量程都是200UF，少数可达2000UF。
这里就讲讲用这样的万用表如何测量任意大的电容。这里就以表的最大量程是200UF为例来讲吧，在开始之前，除了万用表之外，还要准备一个容量小于200UF而接近200UF的电容。耐压不限。这个电容在这里称为辅助电容。然后就要开始测量了。
第一步，测量辅助电容的实际容量，C1，这里举例C1=180UF
第二步，把辅助电容和待测电容串联起来，待测电容称为C2，串联之后的电容值记作C3，测量C3的电容量，这里举例测得C3=153UF。
第三步，根据电容串联的计算公式，1/C1+1/C2=1/C3，推倒得C2=（C1*C3)/(C1-C3)，代入上面举例的数值计算得待测电容C2=1020UF。
理论上讲这个办法可以用200UF量程的万用表测任意大小的电容，不过测量的电容比较大的时候误差也会比表本身的误差要大一些。

5,第五节讲电容的储能计算，相信吧里不少炮友都己经知道了，就是
E=1/2*C*U*U，
这里要强调一点，就是标称的容量和耐压一般是和实际的容量和耐压是有偏差的。要以实际情况为准，不要想当然。
顺便说说测量误差，通常万用表本身的电容档位允许有2%的误差，也就是说1000UF的电容偏多或偏少20UF都是测量误差允许存在的，另外电解电容通常允许有-10%~+20%的生产误差。也就是说铝电解电容要是测量误差和标称误差有10%左右的偏差都是允许存在的，电容都是合格产品。你没有上当受骗。

6，这一节讲电容的耐压问题，对于450伏左右标称耐压的电容而言，通常小单体（主要是小于500UF的电容）的耐压会好一点，基本上都能保证在450之上，而大单体的电容（主要是1000UF以上的电容）通常耐压只能达到400-420，有些甚至更低，这就是为何经常见到进口的螺丝脚电容耐压也只标400伏。所以说如果你想把电压充到450伏的话，最好的选择一定是小单体单容并联。
另外大单体的电容通常还有激活的问题，就是长期库存的电容，开始使用的时候，耐压远达不到标称的情况，比如标称400的，实际耐压只有300伏，或者更低的只有200伏。如果人为的加大充电电流，最终的结果只有一个，那就是@电容爆浆啊啊啊 激活的办法就是先在较低的电压下工作一段时间，让它慢慢恢愎最佳状态，当然也不保证所有的电容都能恢愎到标称的情况，这个就看人品了。
继然己经说到耐压的问题了，就顺便说说怎么测量电容的耐压值呢。首先，引入一个公式，电解电容允许的漏电流I=0.03C*U，C是电容的实际容量，U是电容当前的电压。这里还是举个例子吧。
第一步，测量电容的实际容量C，测量的办法前面讲过了，请参阅第4节，这里举例C=2100UF。
第二步，用升压器对电容充电，假设最终电压停在了300伏。
第三步，测量升压器正极到电容正极导线的电流，也即把电容电压维持在300伏实际消耗的漏电流Ic,这里举例Ic经测量为45mA。而漏电流的的参考数值代入前面公式计算I=0.03*0.0021*300=18.9mA，这里发现实际的漏电流己经大出参考值好几倍了，这样的结果说明这个电容当前的实际耐压是低于300伏的。超标的漏电流最终会转化为热量和气体，如果没有及时发现问题，这颗电容很可能就成为了一颗定时炸弹。
第四步，测量电容的实际耐压，通过对升压器限流等办法减小输出电流，使电容的电压维持在比前面更低的电压，然后重复第三步的测量计算方法。直到实际漏电流Ic小于参考漏电流I时，此时的电压即为该电容的实际耐压。
第五步，如果该电容的漏电流在电压很低时也总是超标严重，或者经过一段时间的激活，耐压还是提高不了，那么解决的办法就是把它扔掉好了。。

7.这一节说说电容的阻抗吧，本文如无特别指定都是讲电解电容，既然要讲电容的阻抗，先要从电容的结构讲起，电解电容的结构一般是由两层铝箔中间夹一层纸，然后浸泡某种电解液，再密封在铝壳里，根据铝的性质，我猜测这种电解液应该是一种弱酸性的盐溶液，一方面具备良好的导电性，一方面能够在氧化铝薄层有破损时修复氧化铝膜。
铝电解电容里面的介电层即这层氧化铝，不同耐压的铝电解电容的差别就在于这层氧化铝的厚度。除此之外就没有什么差别了。为何铝电解电容的耐压不能像薄膜电容那样做到任意高呢，因为这层氧化铝的厚度达到一定程度之后就会变的比较脆，一旦哪块裂开，又没有及时被电解液修复，电容便短路了。短路的结果，通常情况是电解液被电解，产生气体和大量热，然后爆炸，这便是为何铝电解电容做到450V以上非常困难的原因。讲到这里联系到前面第六节刚刚讲过的耐压问题，小单体的耐压通常高一点，而大单体的耐压低，大家也大概理解其中的原因了吧，没错，同样技术条件下，大单体因为电容铝箔的面积大，只能把氧化铝薄膜做薄些，以降低整块薄膜发生破损的概率。
话题扯远了，这一节是讲电容的阻抗的，不是讲做电容的工艺，概括一下前一段，电容的结构即绝缘层两侧有两层导体构成，这里绝缘层是氧化铝薄膜，两侧紧挨着的是电解液，再往两侧则是铝箔，铝箔通常正极要比负极厚一些，什么原因大家自己想去吧，说了不讲做电容的工艺来着，负极的厚度大约是0.1毫米，正极大约0.2毫米，以1000UF450V的电容为例，铝箔的宽度大约60毫米，总长度大约1米的两组再并联，由此可以算出铝箔部分的电阻大约是2毫欧这个数量级。然后是电解液的部分，导电的截面大约是0.1平方米，厚度大约是0.1毫米，这种电解液的电阻率尚不清楚，就以饱合食盐水的电阻率4欧/米来估算，电解液的电阻率是在1毫欧的数量级。两部分加起来就大约是3毫欧。
综上所述，电解电容的内阻是相当低的，一般情况下至少比线圈的内阻低1-2个数量级。

8.再说电容的老化吧，前一节己经把电解电容的结构讲的很清楚了，电解电容的老化主要分为三部分，第一，就是大家常说的电解液的挥发，一般工作温度越高，电解液挥发的越快。第二，电容里面一直都在发生的事情就是电解液修复氧化铝箔膜，一旦电容反向充电，这种反应效会急剧增加，消耗大量的铝箔和电解液，铝箔消耗的过多，面积就会减小，对外的表现就是电容容量下降，电解液消耗的过多，甚至干掉，对外的表现就是内阻增加，发热加剧，发热增加会使电解液挥发的更快，电解液完全干枯之后，电容量就会降为0。电容就失效了。第三，漏电流，漏电流主要是因为氧化铝薄膜上的薄弱地方导电形成的。只要导电，结果就是生成气体和热量，当漏电流低于一定值的时候，生成的气体会被内部消化，有点类似于免维护蓄电池，另外生成的热量也不会使温度过高，不过一量高于这个标准，电容内部就HOLD不住了，内部压力会逐渐升高，温度也会逐渐升高，这个漏电容标准，大多数厂家都是I=0.03*C*U，这个公式在第六节用到过。
当电容没有蓄电的时候，消耗电容寿命的主要是上段第二种反应。也就是说长期搁置不用的电容容量会减少。
当电容蓄电的时候，对于电极的铝箔而言是最好不过的了，不过第三种反应会使电解液的消耗增加。
当电容自身工作温度较高时，影响电容寿命的主要是第一种反应。
当你了解到这些之后是不是觉得电容的命运非常可悲，基本上没有什么办法能阻止一颗电容的寿命走向衰亡。所以就对它好一点吧，不要反向充电和超压超温超负荷使用它。