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平板探测器原理

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平板探测器原理:
平板探测器,是光转换成电信息的吗?
二种转换枝术:
间接转换平板探测器间接转换平板探测器由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管( Thi n Film T ransistor , T FT)或电荷耦合器件( C hargeC oupling Device , C CD)或 互 补 型 金 属 氧 化 物 半 导 体( Com plem en tary M etal Oxide S em i -Conductor , CM OS)构成 。间接转换平板探测器的工作过程一般分为两步 , 首先闪烁晶体涂层将 X 线的能量转换成可见光 ;其次 TF T 或者C CD , 或 C MO S 将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射 , 对空间分辨率产生一定的影响 。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对 X 线的利用及降低散射 ,但散射光对空间分辨率的影响不能完全消除 [2] 。直接转换平板探测器直接转换平板探测器主要由非晶硒层 (Am orph ou s S elenium , a -S e ) T FT 构成 。入射的 X 射线使硒层产生电子空穴对, 在外加偏压电场作用下 , 电子和空穴对向相反的方向移动形成电流 , 电流在薄膜晶体管中形成储存电荷 。每一个晶体管的储存电荷量对应于入射 X 射线的剂量 , 通过读出电路可以知道每一点的电荷量 ,进而知道每点的 X 线剂量 。由于非晶硒不产生可见光 , 没有散射线的影响 , 因此可以获得比较高的空间分辨率 .
125UM 170X190X15MM


IP属地:上海1楼2019-05-25 10:07回复
    3543DR无线探测器,13651860361/.


    IP属地:上海2楼2020-10-29 22:15
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      x-ray微焦无损检测机:上海先威光电

      x-ray微焦无损检测机;采用进口49um高分辨率成像系统,微焦点射线管数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件操作功能;正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度专业图像采集、千兆网端有线连接,电脑即时成像、存储和即时打印检测效果图片. 使用方便、安全、可靠。
      二、仪器特点:
      无损检测仪,主要用于:半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、电子元器件、封装元器、集成电路、电容、热敏电阻、手机电路、电池、电路板、电子产品内部结构是否变形、空焊、脱焊、断裂、移位、等非破坏性检测;同时还可用于: 发热管、发热丝内部结构检测、铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测。
      技术参数:
      1、数字成像视场: 116X146mm(不同面积可订制)
      2、像素间距:49.5um;(高分辨率成像系统)
      3、间距:200-600mm;
      4、A/D转换;16/bits
      5、空间分辨率;10.LP/mm(高分辨率)
      6、管电压:40-90kv;(进口微焦5um射线机)
      7、管靶流:0.15-0.3mA;
      8、电脑系统:windows10;
      9、远程控制: 远程操作软件;
      10、有线传输端口:千兆网口;
      11、主机重量:210kg;
      12、适配器输出电压:DC24V。
      13、交流电源频率:50-60hz;


      IP属地:上海3楼2020-11-16 13:42
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        X-RAY平板探测器,X-RAYDR探测器
        X-RAY-DR探测器,3543/4343/2529/1613/1080DR探测器.



        IP属地:上海4楼2021-07-02 21:50
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          IP属地:上海5楼2022-04-27 16:40
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            l上海先威平板探测器



            IP属地:上海6楼2022-07-01 22:24
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              IP属地:上海7楼2022-08-05 20:24
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