供KOHYOUNG 3D AOI ZENITHLITE 销售租赁：
KOHYOUNG 3D AOI ZENITHLITE
AOI业界为了解决2维检测的瓶颈尽了很大的努力。 认为只有3维技术才能解决该瓶颈， 但是为了利用3维技术检测元器件，存在很多需要解决的课题。 KOH YOUNG 科技的3D AOI完全解决了该瓶颈创造出了业界新的价值。3D的价值=低错误率+最小化目视检查+维持高收益=高生产力拥有无与伦比性能的世界最佳3D AOI系统AOI Zenith 利用Z轴测量方式来检测PCB上的贴装元器件及焊点的所有缺陷， 以创新技术解决了现有2D AOI 无法解决的瓶颈。 根据检测价格的直观性编程及检测条件设定与现有的2D AOI不同， KOH YOUNG 3D AOI 测量爬锡及元件高度及体积，判定良， 不良，所有高永3D AOI的检测条件设定方法即直官有简便。 另外高永3D AOI基于准确信赖性的检测结果数据，实行工程反馈信息，帮助客户工业优化。
[阴影问题]单路照明时， 光照不到的区域产生阴影， 无法准确地测量数据。 ?[乱反射问题]严重的反光导致相机无法准确地测量。 ?[照明障碍物问题]邻接高元器件的元器件因产生阴影无法准备地测量数据 ?[测量范围问题]不能同时保障Z轴高分辨率及大测量范围时， 无法测量准确的数据。 ?所有缺陷的测量及检测可检测缺件，正反面，XY位置，翘脚，立碑，短路，开部，锡膏形状，不良焊点，共面性，零件不良，字符识别，３维极。尺寸 旋转连锡引脚翘起
KOHYOUNG 3D AOI ZENITHLITE
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[阴影问题]单路照明时， 光照不到的区域产生阴影， 无法准确地测量数据。 ?[乱反射问题]严重的反光导致相机无法准确地测量。 ?[照明障碍物问题]邻接高元器件的元器件因产生阴影无法准备地测量数据 ?[测量范围问题]不能同时保障Z轴高分辨率及大测量范围时， 无法测量准确的数据。 ?所有缺陷的测量及检测可检测缺件，正反面，XY位置，翘脚，立碑，短路，开部，锡膏形状，不良焊点，共面性，零件不良，字符识别，３维极。尺寸 旋转连锡引脚翘起
