UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
产品特点:
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示，带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口（USB冗余供电）
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作，蜂鸣提示
主要技术指标:
探头： UV-420nm 探头 UV-365nm 探头
波长范围及峰值波长: λ：(375～475)nm；λP＝420nm λ：(320～400)nm；λP＝365nm
紫外带外区杂光： UV420：小于0.02% UV365：小于0.02%
辐照度测量范围： (0.1～199.9×103) μW/cm2
相对示值误差： ±10%（相对与NIM标准）