UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
产品特点:
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示,带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口(USB冗余供电)
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作,蜂鸣提示
主要技术指标:
探头: UV-420nm 探头 UV-365nm 探头
波长范围及峰值波长: λ:(375~475)nm;λP=420nm λ:(320~400)nm;λP=365nm
紫外带外区杂光: UV420:小于0.02% UV365:小于0.02%
辐照度测量范围: (0.1~199.9×103) μW/cm2
相对示值误差: ±10%(相对与NIM标准)
![](http://tiebapic.baidu.com/forum/w%3D580/sign=61761df291ca7bcb7d7bc7278e096b3f/70b6f3234f4a20a4555b18f6d6529822730ed0df.jpg?tbpicau=2024-09-18-05_888f1ba4864785caf1a1538743e28101)
产品特点:
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示,带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口(USB冗余供电)
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作,蜂鸣提示
主要技术指标:
探头: UV-420nm 探头 UV-365nm 探头
波长范围及峰值波长: λ:(375~475)nm;λP=420nm λ:(320~400)nm;λP=365nm
紫外带外区杂光: UV420:小于0.02% UV365:小于0.02%
辐照度测量范围: (0.1~199.9×103) μW/cm2
相对示值误差: ±10%(相对与NIM标准)
![](http://tiebapic.baidu.com/forum/w%3D580/sign=61761df291ca7bcb7d7bc7278e096b3f/70b6f3234f4a20a4555b18f6d6529822730ed0df.jpg?tbpicau=2024-09-18-05_888f1ba4864785caf1a1538743e28101)