HAST测试是一种高加速温度和湿度应力测试，也称为高压蒸煮测试。 它是一种以温度和湿度作为环境参数的高度加速的电子元件可靠性测试方法。 目的是通过将测试室内的水蒸气压增加到高于测试样品内部水蒸气分压的高水平来评估测试样品的防潮性。
HAST测试标准
与高温/高湿测试 (85°C/85% RH) 相比，HAST 会因湿气驱动的腐蚀而导致更多的组件接触，并且绝缘性能下降更多。 HAST 主要用于塑料密封部件。 下表显示了较常见的 HAST 相关测试标准。 在电子元件通电的情况下进行的测试通常是不饱和类型的。

HAST测试方法
HAST控制方法包括干湿球温度控制、不饱和控制和润湿饱和控制。 干湿球温度控制通过湿球温度传感器和干球温度传感器直接测量和控制试验室的温度和湿度。 润湿饱和控制和不饱和控制用于100 %相对湿度下的测试。 测试样品上形成冷凝的机制因控制方法而异。 当在100 %相对湿度下使用加湿饱和控制进行测试时，测试室加热器关闭并且仅控制加湿加热器。 环境类似于无空气环境中的沸水。 当使用不饱和度控制时，打开的测试室加热器可能会导致轻微的欠饱和倾向。