欢迎咨询 19901793391
XRF分析容易受到元素之间的干扰。铁（Fe）和钴（Co），镍（Ni）和钴（Co）是两个常见的干扰示例。这就意味着，当有大量的铁存在时，XRF分析仪很难辨别出低含量的钴。同样，镍的存在，也会使XRF分析仪难以辨别出钴。令人遗憾的是，我们通常所勘探到的钴都伴有大量的铁和镍。
为了解决这个难题，我们为Vanta便携式XRF分析仪开发了地球化学方式。这个方式可以在矿石中探测到与铁和镍共存的钴，因而提高了Vanta分析仪勘探电池用金属的性能。这个创新型方式解决了长久以来由于其他元素的存在而使便携式XRF分析仪很难探测到钴的干扰问题。
我们为Vanta分析仪开发的这个方式建立在当前的地球化学（GeoChem）方式的基础之上，不过，对于铁、钴、镍的峰值采用了更为复杂的反卷积处理。在部署这个解决方案之前，我们已经使用客户的样件对其进行了测试，以确保其检测结果准确可靠。
检测结果
我们分析了带有高含量铁的16个样本：9% < 铁（Fe） < 50%，50 ≤ 钴（Co） ≤ 6000 ppm，镍（ Ni） < 500 ppm。我们还分析了带有中等含量铁的50个样本：0.5% < 铁（Fe） < 15%，16 < 镍（Ni） < 8000 ppm，50 ppm < 钴（Co） < 2.3%。样本是放于XRF样品杯中的矿浆，在没有校准的情况下，每个光束使用60秒的时间对这些样本进行分析。下面的几个图表说明使用Vanta便携式XRF分析仪获得的结果与从实验室获得的结果高度吻合，从而证明了经过改进的地球化学（GeoChem）方式可以在矿石中伴有大量或中等含量的干扰元素铁和镍时，准确地探测到钴元素的存在。如今，在勘探钴这个重要元素的地球化学应用中，地质学家们就可以依赖Vanta XRF分析仪这款得心应手的工具完成勘探任务啦！